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紫外可见分光光度计的基线平直度的测试方法
来源:http://www.lab-spectrum.com/   作者:紫外可见分光光度计    更新日期:2014-07-28 21:58:37   
摘要:任何分析仪器,在讲它的技术指标时,都必须首先讲这个指标的测试方法。
任何分析仪器,在讲它的技术指标时,都必须首先讲这个指标的测试方法。目前,国际上对紫外可见分光光度计的基线平直度的测试方法,一般是:冷态开机,预热半小时后,试样和参比比色皿都为空气,光谱带宽SBW= 2nm、吸光度值为O,从长波向短波方向对仪器进行全波长慢速(或中速)扫描。在全波长范围内,找出峰—峰(P-P)值中最大的一点,作为该仪器的基线平直度。目前,有许多科技工作者不注意这个问题;如,日本某紫外可见分光光度计,给出的仪器波长范围是190~900nm,给出的基线平直度BF为±O,OO1;但是笔者经测试后发现该仪器的基线平直度只能在200~800nm内才能保证为±O.001。这就意味着该仪器能保证 基线平直度为±O.001的使用波长范围只能是200~800nm。这种给基线平直度的方法是不对的。它既偏离了基线平直度的定义(每个波长上的噪声),又会误导使用者,会使使用者误认为该仪器在190~900nm都能达到光度噪声为±O.001。特别值得注意的是,还有的把基线平直度和基线漂移混为一谈!如某公司,他们对某紫外可见分光光度计给出了“基线參移为±0. 002  (200--- 950nm,”和“基线漂移为N/A”的技术指标。显然,这里的“基线漂移”,是指的基线平直度。而该仪器的波长范围为190一llOOnm,但对波长范围为190一llOOnm的仪器,只给200一950nm的基线平直度是不符合基线平直度的定义的!尤其,对某仪器给出的。基线漂移为N/A”,这种给法更是莫名其妙。另外,该公司又给出了某紫外可分光光度计仪器的“基线稳定性为O.001/h”,但未给出基线平直度。很显然,该旬既未搞清稳定性的概念,又把基线平直度和500nm处的光度噪声混为一谈了。
笔者认为,在基线平直度的表示方法和测试方法上产生上述现象的原因,主要有三个:
第一,不懂得基线平直度的重要性,随便乱写;
第二,既未搞清基线平直度的物理概念,又未去认真研究,只好人云亦云;
第三,为了商业上的需要。

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