紫外可见分光光度计供应商-上海谱元仪器有限公司
< style="line-height:25px;color:">
紫外可见分光光度计导航菜单
< style="line-height:25px;color:">
紫外可见分光光度计首选供应商
< style="line-height:25px;color:">
全站搜索
< style="line-height:25px;color:">
< style="line-height:25px;color:">
在仪器设计过程中误差的分配设计
来源:http://www.lab-spectrum.com/   作者:紫外可见分光光度计    更新日期:2014-07-17 10:44:41   
摘要:使用者利用仪器进行分析工作的目的就是要得到稳定可靠的数据,也就是说分析测试的数据误差要小。而数据是否可靠,误差是否符合要求,又取决于仪器的性能技术指标。所以,设计者应该紧紧围绕“误差”二字,对仪器的性能技术指标进行设计。目前,这个问题还没有引起高度重视。

使用者利用仪器进行分析工作的目的就是要得到稳定可靠的数据,也就是说分析测试的数据误差要小。而数据是否可靠,误差是否符合要求,又取决于仪器的性能技术指标。所以,设计者应该紧紧围绕“误差”二字,对仪器的性能技术指标进行设计。目前,这个问题还没有引起高度重视。

在设计过程中误差的分配设计是最关键的问题,也是一个非常困难的问题。要求设计者必须懂得仪器学,必须对所设计仪器的主要性能技术指标的物理意义、分析误差的影响以及测试方法等有非常深刻的认识。作者曾在1990年发表一篇论文“光谱仪器设计的一种新方法”,文中提出了光谱仪器设计的“光电归一法”。该方法主要从仪器学的角度,从制造和使用两者结合的角度,考虑分析误差的分配。光电归一法将光学和电子学的误差“归一”,用同一个量纲表示(电学量mV或吸光度A)。光电归一法是作者综合了Johnson、Scott、Munk和Winstead等人的科研工作而提出的一种新的设计方法,其核心是将光学类分析仪器整机的噪声、漂移、灵敏度等统一用吸光度或电量表示。

本文由:上海谱元仪器有限公司整理编辑,版权所有!转载请注明出处。

 
 
文章翻页
< style="line-height:25px;color:">
< style="line-height:25px;color:">
紫外可见分光光度计网站底部信息
< style="line-height:25px;color:">
上海谱元仪器有限公司 主营:  分光光度计  紫外可见分光光度计  可见光度计  版权所有 Copyright(C)2005-2020 沪ICP备10016137号-1  网站地图   手机站